目标低频RCS的紧缩场测试研究

被引：11

作者：

潘宇虎 ^{[1
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李小秋 ^{[1
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牛宝君 ^{[1
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高铁 ^{[1
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何丙发 ^{[1
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机构：

[1] 南京电子技术研究所

[2] 天线与微波技术国防科技重点实验室

来源：

现代雷达 | 2011年 / 33卷 / 12期

关键词：

紧缩场; 雷达散射截面; 低频RCS测试; 测试精度;

D O I：

10.16592/j.cnki.1004-7859.2011.12.018

中图分类号：

TN957 [雷达设备、雷达站];

学科分类号：

080906 [电磁信息功能材料与结构];

摘要：

紧缩场低频工作时边缘绕射明显增强,且微波暗室内有限高度的吸波材料低频性能相对较差,使得紧缩场静区的低频幅相特性起伏变大,静区背景电平升高,从而导致紧缩场的目标低频雷达横截面(RCS)测试精度相对高频段会变差。此外,定标球在低频段呈现的RCS振荡幅度较大,也对测试结果带来不确定性。针对紧缩场进行目标低频RCS测试精度的实验研究,并将被测目标的RCS实验值和理论值进行对比,验证了该紧缩场的低频RCS测试性能可满足目标的低频RCS性能测试需求。

引用

页码：55 / 57

页数：3

共 5 条

[1]

紧缩场低频性能的计算与分析 [J].