高精度光电探测器的线性测量

被引：14

作者：

陈风

李双

王骥

郑小兵

机构：

[1] 中国科学院安徽光学精密机械研究所遥感研究室

来源：

光学学报 | 2008年 / 05期

关键词：

光学测量; 陷阱式光电探测器; 非线性因子; 不确定度;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN29 [光电子技术的应用];

学科分类号：

摘要：

介绍了一种高精度的光电探测器线性测量系统,讨论了线性测量的方法,确定以光束叠加法为线性测量系统的基础。设计了测量系统,以944nm激光器为光源,测量了Si陷阱探测器和InGaAs陷阱探测器的非线性因子。实验结果表明,利用该系统在0.1～200μW的入射光功率范围内。Si陷阱探测器非线性因子平均值小于0.009%,联合不确定度小于3.18%;InGaAs陷阱探测器非线性因子平均值小于0.6%,联合不确定度小于6.87%。实验结果证明该系统可以作为高精度光电探测器线性测量装置。

引用

页码：889 / 893

页数：5

共 6 条

[1] 基于相关光子的光辐射定标方法研究 [J].