基于FPGA中FIFO误码率软硬件测试方法

被引：3

作者：

王科

刘振安

赵棣新

过雅南

徐昊

阴泽杰

机构：

[1] 中国科学技术大学

[2] 中国科学院高能物理研究所

来源：

关键词：

误码率; 先进先出寄存器; 伪随机码; 线性反馈移位寄存器;

D O I：

10.19651/j.cnki.emt.2004.02.003

中图分类号：

TN79 [数字电路];

学科分类号：

080902 ;

摘要：

文中介绍用 FPGA中 FIFO的误码率软件和硬件测试方法,简介数据比较程序;说明硬件测试中伪随机码序列特点和生成原理,并对比较时如何使数据对应做出讨论。最后列出测试结果,比较这两种方法的优缺点。

引用

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