X射线荧光光谱法测定地质样品中的氯和硫

被引：29

作者：

袁家义

白雪冰

王卿

周长祥

机构：

[1] 山东地质科学实验研究院

[2] 山东地质科学实验研究院山东济南

[3] 山东济南

来源：

关键词：

X射线荧光光谱法; 氯; 硫; 真空度;

D O I：

10.15898/j.cnki.11-2131/td.2004.03.015

中图分类号：

O657.3 [光化学分析法（光谱分析法）];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

使用粉末压片-X射线荧光光谱法测定地质样品中的Cl和S,探讨了样品放置时间、环境以及建立真空的时间对测量结果的影响。Cl的精密度(RSD,n=6)小于10%,S的精密度(RSD,n=6)小于5%。Cl和S的方法检出限分别为14和11μg/g,采用国家标准物质分析验证方法,其结果与标准值相符。

引用

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