用光纤迈克耳孙干涉仪测量折射率

被引：19

作者：

李毛和

张美敦

机构：

[1] 上海交通大学光纤技术研究所,区域光纤通信网与新型光通信系统国家重点实验室!上海,上海交通大学光纤技术研究所,区域光纤通信网与新型光通信系统国家重点实验室!上海

来源：

光学学报 | 2000年 / 09期

关键词：

白光干涉; 折射率; 光纤干涉仪;

D O I：

暂无

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

对测量群折射率的白光干涉和光纤迈克耳孙 (Michelson)干涉仪技术进行了改进。采用样品夹片和样品与探测光纤端面接触的方法 ,可以使群折射率的测量过程简单化。根据反射峰宽度的变化 ,可以调整样品反射界面与光纤的准直性 ,提高测量精度。

引用

页码：1294 / 1296

页数：3

共 5 条

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