密封继电器电触头污染的实验研究

本文首先采用扫描电子显微镜（SEM）和俄歇电子能谱仪（AES）分析研究了一种密封继电器镀金电触头（基体材料为99．5AgMgNi）的污染，结果表明：触头的冲击磨损和滑动磨损可导致基体金属暴露于表面，使之硫化、碳化和氧化，从而引起触头污染。文中还运用扫描电子显微镜和四极质谱仪（QMS），对经湿热试验后失效的另一种密封继电器镀金电触头（基体材料为AU50Ag20cU30）的污染进行了分析研究，发现密封继电器内水汽等的存在是导致失效的主要因素，触头受到了污染。为研究、诊断污染的来源并采取相应的措施提供了依据。