共 1 条
基于部分游程翻转的SoC测试数据压缩
被引：14
作者：
欧阳一鸣
邹宝升
梁华国
黄喜娥
机构：
[1] 合肥工业大学计算机与信息学院
来源：
基金：
安徽省自然科学基金;
关键词：
压缩/解压;
变长输入Huffman编码;
翻转;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN47 [大规模集成电路、超大规模集成电路];
学科分类号：
摘要：
提出一种基于变长输入Huffman编码的SoC测试数据压缩方法,在测试序列中直接对连续的"0"游程和"1"游程进行编码。通过部分游程翻转的方法,使用单独的码字对翻转操作进行标识,使得长度相等的"0"和"1"游程共用一个码字,从而减少了短游程的数目。它的解压体系结构由一个Huffman解码器和控制生成单元(CUT)组成,且不需要循环扫描移位寄存器。实验结果表明,这种方法能够有效的压缩测试数据。
引用
收藏
页码：23 / 28
页数：6
相关论文