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测量位错密度时位错成象的分析
被引:3
作者
:
卢鸿修
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
冶金部钢铁研究总院六室
卢鸿修
机构
:
[1]
冶金部钢铁研究总院六室
来源
:
电子显微学报
|
1986年
/ 03期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
<正> 测量位错密度常用方法之一是割线交点法,其公式为: Q=2 MN/1t式中Q—位错密度(cm/cm3);M—照片的放大倍数;N—割线与位错线的交点数;1—照片上割线的长度(cm);t—薄膜厚度(cm)。这种测量方法产生误差的主要原因之一是难以选择适当的操作矢量gHKL以保证全部位错成象从而得到准确的
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