发射光谱法测定碳酸盐岩矿样品中的银、锡、硼

被引：8

作者：

吴葆存

机构：

[1] 河南省岩石矿物测试中心

来源：

黄金 | 2003年 / 11期

关键词：

发射光谱; 碳酸盐; 缓冲剂; 稀释剂; 银; 锡; 硼;

D O I：

暂无

中图分类号：

O657.3 [光化学分析法（光谱分析法）];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

采用硫酸钾、硫磺粉和碳酸钡的混合物为缓冲剂 ,以人工配制的硅酸岩基体物质为样品稀释剂[1] ,在WPⅠ一米光栅上用直流电弧叠加摄谱 ,有效地改善了基体成分。该方法降低了银、锡、硼的检出限 (分别为银 0 .0 19× 10 - 6 ,锡 0 .4 9× 10 - 6 ,硼 1.9× 10 - 6 ) ,精密度RSD (n =12 )为2 .79%～ 8.71% ,可满足 1∶2 0万岩石化探分析测定的要求。

引用

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