测试产生的神经网络方法及若干问题研究

被引：2

作者：

潘中良

陈光

机构：

[1] 电子科技大学ＣＡＴ室

来源：

电子科技大学学报 | 1997年 / 03期

关键词：

数字电路；测试图形产生；神经网络；电路结构分析；优化算法;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP18 [人工智能理论];

学科分类号：

081104 ; 0812 ; 0835 ; 1405 ;

摘要：

介绍了在微机上开发的一种基于神经网络的测试生成系统结构，详细讨论了系统中各模块的实现方案。从提高效率的角度，对电路测试生成中神经网络这一方法的发展及今后须解决的问题做了讨论

引用

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共 2 条

[1] 逻辑电路神经网络模型 [J].

张中 ;

魏道政 .

电子学报, 1993, (08) :77-81

[2]

神经网络系统理论.[M].焦李成著;.西安电子科技大学出版社.1990,