集成电路引线焊接无损检测技术的研究

被引：7

作者：

王亚非

周鹰

张天良

张映敏

机构：

[1] 电子科技大学光电子技术系!成都,电子科技大学光电子技术系!成都,电子科技大学光电子技术系!成都,电子科技大学光电子技术系!成都

来源：

仪器仪表学报 | 2001年 / S1期

关键词：

无损检测; 集成电路; 引线焊接; SLAM;

D O I：

10.19650/j.cnki.cjsi.2001.s1.125

中图分类号：

TG441.7 [焊接缺陷及质量检查];

学科分类号：

摘要：

激光扫描声学显微镜是一种新型的集成电路引线焊接无损检测技术。本文分析了该技术用于集成电路引线焊接测量的一些设计参数和技术指标 ,阐述了实验系统 ,最后给出了一些集成电路样品的实验结果

引用

页码：250 / 251

页数：2

共 5 条

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