直流GIL中线形金属微粒对柱式绝缘子表面电荷积聚的影响

被引：40

作者：

王健 ^{[1
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李伯涛 ^{[2
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李庆民 ^{[1
]}

刘思华 ^{[1
]}

马国明 ^{[1
]}

机构：

[1] 新能源电力系统国家重点实验室(华北电力大学)

[2] 国网日照供电公司

来源：

电工技术学报 | 2016年 / 31卷 / 15期

关键词：

表面电荷; 附着微粒; 悬浮微粒; 微观机制;

D O I：

10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.2016.15.025

中图分类号：

TM216 [绝缘子和套管];

学科分类号：

摘要：

针对直流气体绝缘金属封闭输电线路中导电微粒污染问题,研究其对柱式绝缘子表面电荷积聚的影响。首先基于麦克斯韦方程组理论,对绝缘子表面电荷的积聚情况进行分析;并进一步纳入微粒污染以及气体侧空间离子的产生、复合、迁移、扩散等作用,建立了微粒污染情况下包含气体侧微观机制的绝缘子表面电荷积聚模型,利用COMSOL软件对不同极性下绝缘子表面附着微粒以及绝缘子附近存在悬浮微粒两种情况分别进行了求解分析。此外,结合前人实验研究的数据证明了仿真方法与结果的有效性和正确性。结果表明:附着绝缘子表面的导电微粒可引起表面电荷的积聚激增,其中附着在中间部位的微粒引起的电荷激增量更为显著,且微粒两端积聚电荷的电性相反;悬浮微粒对表面电荷积聚的影响较小,当悬浮微粒距绝缘子表面垂直距离超过4倍微粒直径时,其对绝缘子表面电荷的影响可以忽略。

引用

页码：213 / 222

页数：10

共 18 条

[1] 基于可拓分析和熵值法的GIS状态评估 [J].