红外焦平面器件非均匀性校正数字实现

被引：12

作者：

周慧鑫

王炳健

刘上乾

拜丽萍

机构：

[1] 西安电子科技大学技术物理学院

来源：

系统工程与电子技术 | 2004年 / 01期

关键词：

红外焦平面阵列; 红外成像器件; 数字信号处理;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN215 [红外探测、红外探测器];

学科分类号：

摘要：

红外焦平面阵列(infraredfocalplanearrays,IRFPA)成像是当今红外成像技术发展的主流方向,但IRF PA特有的非均匀性严重地限制了系统的成像质量,因此对红外焦平面阵列器件的非均匀性实施有效的校正是其应用中必须解决的一项关键技术。在阐述非均匀性校正算法原理的基础上,着重论述了一种基于TMS320C55XDSP的非均匀性校正算法的实时实现技术,给出了实测结果,验证了该技术的有效性和工程实用性。

引用

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