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线性控制系统[M]. 北京航空航天大学出版社 , 卢伯英主编, 1993
雷达天线近场测试系统中取样架的稳定性分析
被引：3
作者：
尚军平
毛乃宏
李勇
机构：
[1] 西安电子科技大学天线与电磁散射研究所
[2] 中国科学院青海盐湖研究所
来源：
关键词：
取样架,有限元,闭环控制,稳定域;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN820.2 [扫描、扫描方式];
学科分类号：
摘要：
取样架稳定工作是雷达天线测试系统的关键．因此，对取样架的结构稳定性进行了校验，对其控制系统稳定性进行了分析，并给出控制参数的取值域．在系统稳定性要求的控制参数范围内，系统可安全可靠地运行．
引用
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