基质辅助激光解吸电离-飞行时间质谱在糖类化合物研究中的应用

被引：9

作者：

陈海霞

高文远

机构：

[1] 天津大学药物科学与技术学院

来源：

质谱学报 | 2005年 / 02期

关键词：

基质辅助激光解吸电离-飞行时间质谱; 基质; 糖类化合物;

D O I：

暂无

中图分类号：

O629.1 [碳水化合物、糖]; O636.1 [高分子多聚糖];

学科分类号：

摘要：

综述了基质辅助激光解吸电离-飞行时间质谱(MALDI-TOF-MS)的发展、在糖类化合物结构研究时常选用的基质,以及在不同类型糖化合物分析中的应用。MALDI-TOF-MS在糖类分析中通常采用的是N2激光源,基质多为有机小分子如2,5-二羟基苯甲酸、2,4,5-三羟基苯乙酮、1-羟基异喹啉或2-羟基-5-甲氧基苯甲酸、α-氰基-4-羟基-苯丙烯酸等,基质类型的选择则要取决于糖类的存在形式。糖类化合物如中性糖、酸性糖、硫酸化糖、糖蛋白、蛋白聚糖及糖脂等均可利用适合的基质而进行MALDI-TOF-MS分析。

引用

页码：108 / 114

页数：7

共 2 条

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