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基于SIFT匹配算法的PCB板缺陷检测
被引:7
作者
:
张永宏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南京信息工程大学信息与控制学院
张永宏
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
黄晓华
机构
:
[1]
南京信息工程大学信息与控制学院
来源
:
计算机测量与控制
|
2012年
/ 20卷
/ 09期
关键词
:
SIFT;
图像匹配;
缺陷检测;
PCB;
D O I
:
10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2012.09.023
中图分类号
:
TN41 [印刷电路];
学科分类号
:
080903 ;
1401 ;
摘要
:
图像匹配是PCB板缺陷检测中的一个重要环节,匹配效果的好坏直接影响着系统的检测结果和检测精度;为了取得良好的匹配效果和降低对系统硬件的精度要求,文章采用了SIFT匹配算法来进行图像匹配;首先应用SIFT算法获取匹配结果,然后计算出精确变换矩阵进行像素异或运算,最后运用数学形态学的方法消除边缘噪声;实验结果表明SIFT算法能够对存在畸变的图像取得良好的匹配效果,准确检测出缺陷。
引用
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页码:2328 / 2330
页数:3
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