全反射X射线荧光光谱仪的研制

被引：3

作者：

李国会

樊守忠

朱永奉

张天佑

机构：

[1] 地矿部物探与化探研究所

[2] 地矿部成都地质矿产研究所

[3] 地矿部科技司河北廊坊

[4] 河北廊坊

[5] 成都

[6] 北京

来源：

分析测试仪器通讯 | 1995年 / 03期

关键词：

全反射X射线荧光光谱仪(TRXRF); 结构特点;

D O I：

暂无

中图分类号：

TH744 [物理光学仪器];

学科分类号：

摘要：

文章报道了由地矿部物化探研究所和成都地矿所联合研制的全反射X射线荧光(TRXRF)分析装置。介绍了全反射原理及装置的结构特点。该样机与常规的X射线光谱仪相比,对12种元素的检出限降低了2～3个数量级。

引用

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页数：4

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共 1 条

[1] 全反射X射线荧光分析法 [J].

刘亚文 .

光谱学与光谱分析, 1987, (04) :69-73