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CCD测望远系统放大率
被引:5
作者
:
刘秉琦
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刘秉琦
沈学举
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沈学举
机构
:
来源
:
光电工程
|
1998年
/ 03期
关键词
:
望远镜系统,放大率,电荷耦合器件,精密测量;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN386.5,TH751 [];
学科分类号
:
摘要
:
用CCD器件对望远系统放大率进行测量,结果表明这是一种有较高精度的望远系统放大率测量方法。
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页数:3
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