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双极型微波功率晶体管热失效原因分析
被引:2
作者
:
李萍
论文数:
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引用数:
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0
机构:
信息产业部电子第五研究所
李萍
来萍
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机构:
信息产业部电子第五研究所
来萍
郑廷圭
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机构:
信息产业部电子第五研究所
郑廷圭
机构
:
[1]
信息产业部电子第五研究所
来源
:
电子产品可靠性与环境试验
|
2006年
/ 04期
关键词
:
双极型微波功率晶体管;
二次击穿;
粘接不良;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN323.4 [];
学科分类号
:
摘要
:
阐述了双极型微波功率晶体管的主要失效模式及失效机理,重点分析了热应力导致的失效,介绍了两个典型的失效分析案例,并提出相应的筛选措施。
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页码:16 / 18
页数:3
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