双极型微波功率晶体管热失效原因分析

被引：2

作者：

李萍

来萍

郑廷圭

机构：

[1] 信息产业部电子第五研究所

来源：

电子产品可靠性与环境试验 | 2006年 / 04期

关键词：

双极型微波功率晶体管; 二次击穿; 粘接不良;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN323.4 [];

学科分类号：

摘要：

阐述了双极型微波功率晶体管的主要失效模式及失效机理,重点分析了热应力导致的失效,介绍了两个典型的失效分析案例,并提出相应的筛选措施。

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共 2 条

[1]

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[2]

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