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反射光学系统杂散光的消除
被引:60
作者:
钟兴
张雷
金光
机构:
[1] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
来源:
关键词:
R-C系统;
杂散光;
遮光罩;
模拟测试;
D O I:
暂无
中图分类号:
O436.2 [吸收与散射];
学科分类号:
070207 ;
0803 ;
摘要:
成像光学系统中的杂散光会引起像质模糊和对比度下降,在对像质要求较高,或被探测的光能量微弱的情况下,必须对杂散光进行消除。R-C(Ritchey-Chretien)系统是卡塞格林系统的一种形式,在地面光电探测和空间对地观测等方面都有广泛应用。以焦距为2 m,相对孔径为1/4的R-C系统为例,介绍了利用计算机仿真技术进行消杂散光设计和评价的原理,结合CAD建模进行了主镜内遮光罩、外遮光筒、次镜百叶窗式遮光罩的设计。使用光线模拟追迹软件TRACEPRO建立的测试系统进行仿真测试,得到R-C系统的杂光系数为6.4%,证明了设计的可行性,为应用和进一步的优化设计提供了依据。
引用
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页数:3
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