Mach-Zehnder干涉仪法测定染料掺杂高聚物薄膜复数电光系数

被引：2

作者：

程晓曼

机构：

[1] 天津理工学院光电信息与电子工程系

来源：

关键词：

染料掺杂高聚物；复数电光系数张量；Mach－Zehnder干涉仪;

D O I：

10.16136/j.joel.1998.02.017

中图分类号：

TH744.3,O631.24 [];

学科分类号：

摘要：

本文介绍一种使用Ｍａｃｈ－Ｚｅｈｎｄｅｒ干涉仪同时测定染料掺杂高聚物薄膜电光系数张量实部和虚部的方法；用该方法测量了掺染料红１号（ＤＲ１）有机玻璃到（ＰＭＭＡ）膜的复数电光系数张量分量ｒ１３和ｒ３３；并讨论了膜内多重反射效应对测量精度的影响，给出了修正公式和实验结果。

引用

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