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晶体器件中的光线追迹法附视频
被引:2
作者
:
张为权
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江丝绸工学院
张为权
机构
:
[1]
浙江丝绸工学院
来源
:
光子学报
|
1996年
/ 01期
关键词
:
光线追迹;渥拉斯顿棱镜;象差;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O734.1 [];
学科分类号
:
0803 ;
摘要
:
本文以Wollaston棱镜为例将作者原先提出的晶体中光线轨迹公式用于具有多个折射面的晶体器件,阐明公式中各物理量的计算方法,把它与坐标转换关系相结合,提出了一种较简单的光线追迹法,用以研究晶体器件的象差。为晶体器件设计提供了一种新方法。
引用
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页码:79 / 84
页数:6
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