未找到相关数据
一种实用的集成芯片测试仪的设计
被引：7
作者：
刘庆江
张晓光
机构：
[1] 中国矿业大学信息与电气工程学院
[2] 中国矿业大学信息与电气工程学院 (江苏徐州)
[3] (江苏徐州)
来源：
关键词：
集成芯片测试仪;
单片机;
测试接口;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN406 [可靠性及例行试验];
学科分类号：
080903 ;
1401 ;
摘要：
介绍了采用 AT89C5 2单片机设计的集成芯片测试仪的工作原理及硬软件设计。该系统具有满意的性能和良好的应用前景。
引用
收藏
页码：36 / 37+40
+40
页数：3
相关论文