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光热偏转薄膜热导测试系统及其应用
被引:5
作者
:
张纪法,王冠中,崔景彪,方容川
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国科学技术大学物理系
张纪法,王冠中,崔景彪,方容川
机构
:
[1]
中国科学技术大学物理系
来源
:
高技术通讯
|
1995年
/ 02期
关键词
:
光热偏转,薄膜,热扩散系数,热导率;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN304.18 [];
学科分类号
:
摘要
:
根据光热偏转光谱(PTDS)原理,研制成功光热偏转法薄膜热导测试系统,对大量试样进行了测量,结果同文献参考值符合较好,测量重复精度优于5%,为材料科学有关热性质的研究,特别是有关光热偏转薄膜热导率的研究提供了有力的检测手段,为研制高质量金刚石薄膜提供了依据。
引用
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页码:31 / 34
页数:4
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