电导数测试用于大功率半导体激光器的快速筛选

被引：10

作者：

李红岩

石家纬

金恩顺

齐丽云

李正庭

高鼎三

肖建伟

刘宗顺

机构：

[1] 吉林大学电子工程系集成光电子国家重点实验室吉林大学实验区

[2] 中国科学院半导体所集成光电子国家重点实验室科学院半导体所实验区

来源：

关键词：

半导体激光器，可靠性，筛选;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN248 [激光器];

学科分类号：

0803 ; 080401 ; 080901 ;

摘要：

对氧化物条型ＧａＡｓ／ＧａＡｌＡｓ大功率量子阱激光器的电导数曲线及其参数与器件可靠性之间的相关性进行了讨论，指出ｍ，ｈ，ｂ参数可以评价器件质量和可靠性。实验结果表明电导数测试是大功率半导体激光器快速筛选的新方法。

引用

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