基于遗传算法的自适应测试生成

被引：8

作者：

刘晓东

孙圣和

机构：

[1] 哈尔滨工业大学

[2] 哈尔滨工业大学哈尔滨

[3] 哈尔滨

来源：

关键词：

测试生成; 遗传算法; 自适应;

D O I：

10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2002.03.004

中图分类号：

TN406 [可靠性及例行试验];

学科分类号：

080903 ; 1401 ;

摘要：

文章介绍了一种基于遗传算法的自适应测试生成方法。首先讨论了用遗传算法进行测试生成时构造评价函数的一些方法,然后应用组合电路的Hopfield神经网络模型,提出了基于遗传算法的自适应测试生成算法,该方法不同于传统的方法,它不需要故障传播、回退等过程。实验结果表明了本算法的可行性。

引用

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