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磷矿石的 X 射线荧光光谱分析
被引:11
作者
:
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
茅祖兴
机构
:
[1]
中国科学院地质研究所
来源
:
分析化学
|
1988年
/ 10期
关键词
:
磷矿石;
标准样品;
四硼酸;
标样;
技术标准;
玻璃熔片;
荧光光谱分析;
荧光分析;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
本文研究了用X射线荧光光谱分析磷矿石的方法。磷矿石样品和四硼酸锂的混合物放在Pt-Au坩埚中熔融,制成玻璃圆片。同时加入氧化剂(硝酸铵)保护Pt-Au坩埚免遭损坏。利用De Jongh公式校正元素之间的影响,并由NBSGSC基本参数法程序计算了磷矿石的理论Alpha系数。样品分析结果是准确的,分析效率大大高于湿法分析,这表明,X射线荧光光谱法可以取代湿法分析磷矿石。
引用
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页码:909 / 911
页数:3
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