X射线荧光光谱法测定红土镍矿中多种元素

被引：8

作者：

彭南兰 ^{[1
]}

李小莉 ^{[2
]}

华磊 ^{[1
]}

王学伟 ^{[1
]}

陈芸平 ^{[1
]}

机构：

[1] 云南省有色地质局测试中心

[2] 天津地质矿产研究所

来源：

中国无机分析化学 | 2012年 / 2卷 / 01期

关键词：

X射线荧光光谱仪; 红土镍矿; 粉末压片; 熔融片; 多元素;

D O I：

暂无

中图分类号：

O657.34 [Ｘ射线荧光分析法]; P575 [矿物的鉴定及分析];

学科分类号：

070302 ; 081704 ; 070901 ;

摘要：

分别研究了采用压片、熔片两种制样方法,用X射线荧光光谱法(XRF)测定了红土镍矿中的9种元素。压片法重点研究了基体效应校正,经散射线作内标和经验系数法校正后,可准确测定除二氧化硅、氧化镁外的7种元素,方法简便、快速;而熔片法着重研究了熔剂和熔样温度的选择,经基体效应校正,各分析元素的结果准确度完全可与化学法相媲美,其相对标准偏差(RSD)在0.50%～3.00%间。

引用

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共 5 条

[1] X射线荧光光谱法测定电解锰中锰、硅、磷和铁含量 [J].