基于统计信息的织物瑕疵自适应检测

被引：6

作者：

韩立伟 ^{[1
]}

徐德 ^{[1
]}

王麟琨 ^{[2
]}

机构：

[1] 中国科学院自动化研究所复杂系统与智能科学实验室

[2] 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所

来源：

电子器件 | 2008年 / 03期

关键词：

图像处理; 织物瑕疵; 模板匹配; 自适应模板; 自适应阈值;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP391.41 [];

学科分类号：

080203 ;

摘要：

在使用模板匹配方法检测织物瑕疵的过程中,通过实时采集、分析织物的灰度图像,获得织物纹理的统计信息,并从中提取出正常纹理的特征。在此基础上,生成自适应更新的匹配模板和自适应变化的瑕疵判决阈值,使模板和判决阈值不需要人为干预,能够随织物的实际纹理自适应的变化,提高了算法的灵活性和通用性。实验结果验证了该方法的有效性。

引用

页码：979 / 983+987 +987

页数：6

共 4 条

[1] 灰度图像匹配的快速算法 [J].