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EDXRF中复杂基体效应的一种校正方法研究
被引：5
作者：
庹先国
梁兴中
郑建安
机构：
[1] 成都理工学院
[2] 大冶有色金属公司
来源：
关键词：
EDXRF，基体效应，特征参数，相似分类法;
D O I：
暂无
中图分类号：
TL817.1 [];
学科分类号：
082704 ;
摘要：
系统地介绍的了一种用特征参数和相似分类法解决能量色散Ｘ射线荧光（ＥＤＸＲＦ）分析技术中复杂基体效应影响的方法，给出了应用事例。该方法可以推广到其它复杂类型的分析对象，具有较广泛的适用性。
引用
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