数字电路多加权集随机测试生成方法

被引：2

作者：

谢永乐

陈光■

机构：

[1] 电子科技大学自动化系

[2] 电子科技大学自动化系成都四川大学制造科学与工程学院成都

[3] 成都

来源：

计算机辅助设计与图形学学报 | 2002年 / 06期

关键词：

故障诊断; 测试生成器; 加权随机测试; 多加权集; 超大规模集成电路;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN79 [数字电路];

学科分类号：

080902 ;

摘要：

提出一种基于确定性完备测试集的数字集成电路多加权集随机测试生成方法 .通过引入搜索与迭代算法 ,将完备测试集分成若干测试子集 ,每一子集对应一个权集 ,即产生该子集中测试矢量的被测电路各主输入端取‘1’值的概率组合 .该方法与文献 [2 - 3]的结果相比 ,在测试序列长度或硬件开销上获得了改善 ,对大规模集成电路的内建自测试尤为适用

引用

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页数：3

共 3 条

[1]

On evaluating and optimizing weights for weighted random pattern testing. Amitava Majumder. IEEE Transactions on Computers . 1996

[2]

A weighted random pattern test generation system. Rohit Kapur,Srinivas Patil,Thomas J Snethen,et al. IEEE Transcations on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 1996

[3]

3 -weighted pseudo-random test generation based on a deterministic test set for combinational and sequential circuits. Irith Pomeranz,Subhakar M Reddy. IEEE Transcations on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 1993

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