“中厚”磁泡薄膜多元组份原子比的X荧光光谱非破坏测定

被引：2

作者：

郝贡章

欧通桃

程建邦

黄毅英

机构：

[1] 北京有色金属研究总院

[2] 中国科学院物理研究所

来源：

光谱学与光谱分析 | 1985年 / 04期

关键词：

磁膜; 磁泡; 基片; 衬底; 组份; 原子比; 荧光光谱;

D O I：

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中图分类号：

学科分类号：

摘要：

本文用X射线光谱绝对强度法、经验系数法和基片内标比值法测定钆镓石榴石基片上的磁膜组份:Ca、Fe、Y、Sm、Ge。厚度范围从“薄展”区扩展到了“中厚”区,结果与化学值相符,操作简便、快速且非破坏。

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共 2 条

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郑德娟 .

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