共 5 条
- [5] 电子设备测试性及诊断技术[M]. 航空工业出版社 , 曾天翔主编, 1996
电子设备自动测试系统的环绕BIT设计
被引：11
作者：
胡彭炜
[1
]
杨福兴
[1
]
何玉珠
[2
]
机构：
[1] 北京邮电大学自动化学院
[2] 北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院
来源：
关键词：
环绕BIT;
自动测试系统;
PCI总线;
D O I：
10.19651/j.cnki.emt.2009.12.039
中图分类号：
TN06 [测试技术及设备];
学科分类号：
摘要：
介绍了环绕BIT设计原理,结合某型自动测试系统的结构特点,针对系统不同组成模块(通讯、AD、DA、DI、DO等)采取不同的环绕BIT设计处理方式,并采用流程解析的方法来简化BIT流程设计,实现了系统的机内检测。实验表明,设计满足该自动测试系统自检和故障隔离的需要,提高了测试效率,提供了可靠的维修策略和依据。
引用
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