纳米TiO2分离富集和ICP-AES测定地质样品中的钼和钨

被引：22

作者：

李春香

秦永超

梁沛

胡斌

彭天右

江祖成

机构：

[1] 平顶山师范专科学校

[2] 武汉大学化学系

[3] 武汉大学化学系平顶山

[4] 武汉

来源：

分析科学学报 | 2002年 / 03期

关键词：

ICP-AES; 纳米TiO2; 钼酸根离子; 钨酸根离子; 吸附;

D O I：

暂无

中图分类号：

O658 [元素及化合物的分离方法];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

本文以 ICP- AES为检测手段 ,系统地研究了纳米 Ti O2 材料对钼酸根和钨酸根离子的分离 /富集行为及影响其吸附和解脱的主要因素 ,并考察了共存离子的干扰影响。在优化的实验条件下 ,本法测定 Mo( )和 W ( )的检出限分别为 0 .0 1 7μg/m L和 0 .0 4 4μg/m L ,相对标准偏差 ( RSD)为 1 .8% (对 Mo)和 2 .3% (对 W) ( n=9,c=5 .0μg/m L )。本法已应用于水系沉积物和岩矿标准样品中 Mo或 W的测定 ,测定值与标准值基本吻合

引用

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共 5 条

[1] TBP萃淋树脂微色谱柱分离富集钼的研究及应用 [J].