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模拟电路的K故障定值和可测性设计
被引:6
作者
:
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
孙义闯
机构
:
[1]
大连海运学院电子工程系
来源
:
电子测量与仪器学报
|
1988年
/ 03期
关键词
:
可测性;
故障定值;
拓扑结构;
测试激励;
个数;
数据结构;
可及节点;
模拟电路;
D O I
:
10.13382/j.jemi.1988.03.003
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
本文在只施加电流激励测试可及节点电压的情况下,研究了模拟电路的k故障定值问题。文中导出了k故障定值方程,给出了一个简化的定值算法,并着重对K故障定值的可测性设计问题做了直观的讨论,较全面地分析了拓扑结构、可及节点和测试激励的设计和选取问题。
引用
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页码:25 / 31+60 +60-61
页数:9
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