模拟电路的K故障定值和可测性设计

被引:6
作者
孙义闯
机构
[1] 大连海运学院电子工程系
关键词
可测性; 故障定值; 拓扑结构; 测试激励; 个数; 数据结构; 可及节点; 模拟电路;
D O I
10.13382/j.jemi.1988.03.003
中图分类号
学科分类号
摘要
本文在只施加电流激励测试可及节点电压的情况下,研究了模拟电路的k故障定值问题。文中导出了k故障定值方程,给出了一个简化的定值算法,并着重对K故障定值的可测性设计问题做了直观的讨论,较全面地分析了拓扑结构、可及节点和测试激励的设计和选取问题。
引用
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页码:25 / 31+60 +60-61
页数:9
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