学术探索
学术期刊
新闻热点
数据分析
智能评审
立即登录
电子设备故障诊断外推推理机模型
被引:1
作者
:
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
陈振羽
周曼丽
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华中理工大学电子与信息工程系
周曼丽
朱耀庭
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华中理工大学电子与信息工程系
朱耀庭
机构
:
[1]
华中理工大学电子与信息工程系
来源
:
华中理工大学学报
|
1989年
/ S1期
关键词
:
电子设备;
故障诊断;
外推推理机;
D O I
:
10.13245/j.hust.1989.s1.011
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
基于扩展的集合覆盖理论,本文提出了电子设备故障诊断外推推理机模型,并给出了算法.该模型的主要优点是:抓住了人类专家诊断推理的特点,兼顾多种故障假设,便于容纳各种不精确的推理形式.
引用
收藏
页码:69 / 74
页数:6
相关论文
共 1 条
[1]
Reggia J A,Nau D S,Wang P Y.A Formal Model of Diagnostic Inference-1:Problem Formulation and Decomposition. Journal of Information Science . 1985
←
1
→
共 1 条
[1]
Reggia J A,Nau D S,Wang P Y.A Formal Model of Diagnostic Inference-1:Problem Formulation and Decomposition. Journal of Information Science . 1985
←
1
→