电子设备故障诊断外推推理机模型

被引:1
作者
陈振羽
周曼丽
朱耀庭
机构
[1] 华中理工大学电子与信息工程系
关键词
电子设备; 故障诊断; 外推推理机;
D O I
10.13245/j.hust.1989.s1.011
中图分类号
学科分类号
摘要
基于扩展的集合覆盖理论,本文提出了电子设备故障诊断外推推理机模型,并给出了算法.该模型的主要优点是:抓住了人类专家诊断推理的特点,兼顾多种故障假设,便于容纳各种不精确的推理形式.
引用
收藏
页码:69 / 74
页数:6
相关论文
共 1 条
[1]  
Reggia J A,Nau D S,Wang P Y.A Formal Model of Diagnostic Inference-1:Problem Formulation and Decomposition. Journal of Information Science . 1985