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自动测试系统自检适配器自动设计技术
被引：14
作者：
孙宝江
李晓白
秦红磊
沈士团
机构：
[1] 北京航空航天大学电子信息工程学院
来源：
关键词：
自动测试;
自动测试系统;
自检适配器;
自动设计;
可交换虚拟仪器(IVI);
D O I：
暂无
中图分类号：
TP274 [数据处理、数据处理系统];
学科分类号：
0804 ;
080401 ;
080402 ;
081002 ;
0835 ;
摘要：
采用面向信号方法建立仪器模型、开关模型,对系统所有仪器端口进行自动最优匹配,与相应开关构成自检回路,并实现自检回路自动布线.依据IVI(Interchangeable Virtual Instrument)-Signal Interface标准自动编写自检程序,较大地提高了设计效率和标准化程度.以某机载通讯设备自动测试系统为例,采用该技术可缩短ATS自检适配器开发周期至原来的1/3,显著降低了开发成本.
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页码：288 / 294
页数：7
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