大豆油煎炸过程的衰减全反射红外光谱跟踪分析

为弄清大豆油顺式双键的氧化及反式异构化与煎炸时长的关系,对190℃下连续10 h的煎炸过程进行了衰减全反射红外光谱跟踪分析及光谱相似度评价。结果发现,3009、1400及914 cm-1等吸收峰强度随着煎炸时间的延长而减弱,与大豆油烯键的氧化程度有关;967 cm-1处的情况则刚好相反,与顺式烯键反式异构化的程度有关。190℃下煎炸超过4 h后,大豆油的氧化及反式异构化等变质反应将随时间的进一步延长而显著加剧。初步研究结果表明,衰减全反射红外光谱分析法可对大豆油在煎炸烹调过程中的变质情况进行快速、有效的跟踪监控,研究结果可为安全、合理的大豆油煎炸烹调应用提供科学依据。