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智能理论在BIT设计与故障诊断中的应用
被引：25
作者：
温熙森
徐永成
易晓山
机构：
[1] 国防科技大学机电工程与仪器系
来源：
关键词：
机内测试，人工智能，测试性，神经网络;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN06 [测试技术及设备];
学科分类号：
摘要：
近２０年来机内测试（ＢＩＴ）技术从理论到应用取得了显著进展，已成为提高产品测试性和诊断能力的有效途径。本文概述了ＢＩＴ技术的特点，分析了国内外ＢＩＴ的发展趋势，对ＢＩＴ智能化从系统设计、信息处理到综合决策各阶段进行概括，对专家系统、神经网络、模糊理论、信息融合等智能理论在ＢＩＴ中的应用进行了综合分析，并初步建立智能ＢＩＴ的理论框架
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