基于RPCA的太阳能电池片表面缺陷检测

被引：34

作者：

姚明海

李洁

王宪保

机构：

[1] 浙江工业大学信息工程学院

来源：

计算机学报 | 2013年 / 36卷 / 09期

关键词：

RPCA; 缺陷检测; APG法; IALM法;

D O I：

暂无

中图分类号：

TM914.4 [太阳能电池]; TP391.41 [];

学科分类号：

080203 ;

摘要：

目前太阳能电池片生产过程中的缺陷检测主要由人工完成,费时费力,容易受主观因素的影响.文中提出了一种基于RPCA(Robust Principal Component Analysis,RPCA)的太阳能电池片表面缺陷检测方法.该方法对图像矩阵进行变换,使之分解成无缺陷的低秩矩阵图像和有缺陷的稀疏矩阵图像.通过凸优化的方法,分别最小化上述两个矩阵的核范数和1范数,从而使矩阵得以有效快速地分解.同时,文中分别对优化的两种算法:加速逼近梯度(Accelerated Proximal Gradient,APG)法和非精确增广拉格朗日乘子(Inexact Augmented Lagrange Multiplier,IALM)法,在太阳能电池片缺陷检测的计算时间和迭代次数方面进行了比较.最后通过大量实验,证明了上述方法在检测太阳能电池片表面缺陷的可行性和有效性.

引用

页码：1943 / 1952

页数：10

共 7 条

[1] 基于机器视觉的太阳能电池片表面缺陷检测的研究[D]. 赵慧阳.燕山大学. 2011
[2] Defect detection of solar cells in electroluminescence images using Fourier image reconstruction[J] . Du-Ming Tsai,Shih-Chieh Wu,Wei-Chen Li.Solar Energy Materials and Solar Cells . 2011
[3] Micro crack detection of multi-crystalline silicon solar wafer using machine vision techniques
Chiou, Yih-Chih
Liu, Jian-Zong
Liang, Yu-Teng
[J]. SENSOR REVIEW, 2011, 31 (02) : 154 - 165
[4] Micro-crack inspection in heterogeneously textured solar wafers using anisotropic diffusion[J] . Du-Ming Tsai,Chih-Chieh Chang,Shin-Min Chao.Image and Vision Computing . 2009 (3)
[5] Exact Matrix Completion via Convex Optimization
Candes, Emmanuel J.
Recht, Benjamin
[J]. FOUNDATIONS OF COMPUTATIONAL MATHEMATICS, 2009, 9 (06) : 717 - 772
[6] Photographic diagnosis of crystalline silicon solar cells utilizing electroluminescence[J] . Takashi Fuyuki,Athapol Kitiyanan.Applied Physics A . 2009 (1)
[7] Linearized Bregman iterations for compressed sensing[J] . Jian-Feng Cai,Stanley Osher,Zuowei Shen.Mathematics of Computation . 2008 (267)

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