高压电缆瓷套式终端发热原因

被引：11

作者：

罗真海 ^{[1
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陆国俊 ^{[1
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王晓兵 ^{[1
]}

罗红 ^{[1
]}

肖上林 ^{[2
]}

郭长春 ^{[2
]}

机构：

[1] 广州供电局

[2] 长沙电缆附件有限公司

来源：

关键词：

终端; 红外成像; 发热; 介质损耗; 电场计算; 水分含量;

D O I：

10.13336/j.1003-6520.hve.2007.11.038

中图分类号：

TM216 [绝缘子和套管];

学科分类号：

摘要：

为了及早发现电缆线路的安全隐患,防止事故发生,采用红外热成像仪在线检测了某110kV高压电缆终端,发现了高压电缆瓷套式终端异常发热的现象,通过一系列的检测和研究试验,查明了终端发热的原因为终端填充的硅油介损过高所致,获得了试验数据,为今后电缆线路在线监测积累了经验。

引用

页码：240 / 241+244 +244

页数：3

共 6 条