基于空间矩和Zernike矩的亚像素边缘检测

被引：18

作者：

丁兴号

邓善熙

杨永跃

赵前程

机构：

[1] 厦门大学电子工程系

[2] 合肥工业大学仪器仪表学院

[3] 合肥工业大学仪器仪表学院福建厦门

[4] 安徽合肥

来源：

关键词：

空间矩; Zernike矩; 边缘检测; 亚像素; 边缘定位;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP391.4 [模式识别与装置];

学科分类号：

0811 ; 081101 ; 081104 ; 1405 ;

摘要：

介绍了两种矩的理论,然后根据建立的四参数边缘模型,分别利用两种矩的性质推导出边缘参数与矩之间的关系,利用矩得到图像边缘参数,最后由边缘参数确定图像边缘.两种矩方法得到的边缘的边缘定位精度都已达到亚像素级.

引用

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