ZnO压敏电阻冲击电流寿命分布的试验研究

被引:13
作者
丁留华
束静
机构
[1] 常州市创捷防雷电子有限公司
关键词
ZnO压敏电阻; 冲击电流寿命; 威布尔分布;
D O I
10.14106/j.cnki.1001-2028.2010.10.010
中图分类号
TM54 [电阻器、电位器];
学科分类号
080801 ;
摘要
对氧化锌压敏电阻(MOV)样品进行了最大放电电流下的冲击电流寿命试验,得出了每只样品在失效前所能承受的冲击次数;通过对大量样品冲击电流寿命的统计分析,证明了MOV在冲击电流作用下的失效率服从威布尔(weibull)分布,从而为确定MOV的失效前平均寿命和保证寿命提供了依据。
引用
收藏
页码:36 / 38
页数:3
相关论文
共 2 条
[1]  
电子元器件可靠性试验工程.[M].罗雯;魏建中;阳辉等编著;.电子工业出版社.2005,
[2]  
金属氧化物非线性电阻特性和应用.[M].吴维韩等著;.清华大学出版社.1998,