采样点分布对基于面形斜率径向基模型的自由曲面拟合精度的影响

被引：8

作者：

武鹏飞 ^{[1
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张赞 ^{[1
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郑义 ^{[1
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张娟 ^{[1
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王尧尧 ^{[1
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赵星 ^{[1
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王灵杰 ^{[2
]}

伍雁雄 ^{[2
]}

机构：

[1] 不详

[2] 南开大学现代光学研究所光学信息技术科学教育部重点实验室

[3] 不详

[4] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所光学系统先进制造技术中国科学院重点实验室

[5] 不详

来源：

光学精密工程 | 2016年 / 07期

关键词：

光学设计; 自由曲面; 拟合精度; 采样点分布;

D O I：

暂无

中图分类号：

TH74 [光学仪器];

学科分类号：

0803 ;

摘要：

鉴于自由曲面模型的面形拟合精度在自由曲面表征以及面形初始结构选取等研究中的重要性,本文针对基于面形斜率的高斯径向基表征模型,研究了不同的采样点分布类型对该模型面形拟合精度的影响。采用不同采样点分布拟合离轴二次曲面和带凸起的抛物面,结果表明采用均匀随机分布的采样点有利于实现高精度的面形拟合,且达到一定的拟合精度后,采样点的数目对拟合精度的影响有限。以离轴三反系统为设计实例,对比了由不同采样方式生成初始面形后系统的像质优化结果。结果显示,采用均匀随机型采样方式得到的初始面形进行系统优化,最终全视场平均调制传递函数(MTF)可以达到0.72以上,远高于由边缘集中采样方式生成初始面形后系统像质的优化结果,从而印证了理论研究结果。

引用

页码：1564 / 1572

页数：9

共 9 条

[1] 基于面形斜率的光学自由曲面表征 [J].