X-射线荧光光谱法测定炉渣中13种组分

被引：18

作者：

童晓民

赵宏风

黄春燕

赵一波

机构：

[1] 东北大学分析化验中心

来源：

冶金分析 | 2005年 / 06期

关键词：

X-射线荧光; 炉渣; 干扰曲线法; 迭次校正法;

D O I：

10.13228/j.issn.1000-7571.2005.06.004

中图分类号：

O657.34 [Ｘ射线荧光分析法];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

采用Li2B4O7和LiNO3为熔剂,LiBr作脱膜剂,熔融法制备样品;运用干扰曲线法通过迭次校正Ba,Ti,V,Cr,Mn各元素谱线重叠干扰,理论α系数法校正基体效应,X-射线荧光光谱法（XRF）分析了复杂体系炉渣中Na2O,MgO,Al2O3,SiO2,P2O5,K2O,CaO,TiO2,V2O5,Cr2O3,MnO,TFe,BaO 13种组分。该方法与化学法测定结果符合较好,10次制样测量各组分,相对标准偏差在0.15%3.79%范围内。

引用

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