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VLSI容错结构设计及其可靠性模型研究
被引：1
作者：
赵天绪
郝跃
李宏涛
王江爱
机构：
[1] 西安电子科技大学微电子所,宝鸡文理学院
来源：
关键词：
容错结构,可靠性模型,二叉树结构;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN406 [可靠性及例行试验];
学科分类号：
140101 [集成纳电子科学];
摘要：
概述一些容错设计方案后综述了反映容错设计有效性的可靠性估计模型。
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页数：3
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