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导电聚吡咯对阴离子深度分布的XPS研究
被引:3
作者
:
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机构:
郭可珍
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机构:
李永舫
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机构:
潘承璜
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机构:
钱人元
机构
:
[1]
中国科学院化学研究所
来源
:
化学学报
|
1990年
/ 01期
关键词
:
电子能谱;
表面层;
流体层;
深度分布;
束缚能;
结合能;
谱峰面积;
阴离子;
XPS;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
<正> 导电聚吡咯是在电化学聚合过程中聚吡咯部分转移电子给电极,然后嵌入对离子的产物.现有的实验事实证明,在导电聚吡咯的厚度方向对阴离子的浓度分布非常均匀,这些实验结果是从横截面的电子探针法取得,但对100 A 以内表面层中对阴离子浓度的分布是否均匀是不清楚的.本工作试图用X射线光电子能谱的电子起飞角依赖性来得到在几十 A 表面层内的对阴离子浓度分布.
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