X射线衍射法测定分子筛硅铝比与结晶度

被引：33

作者：

沈春玉

储刚

刘发起

机构：

[1] 辽宁石油化工大学石油化工学院,辽宁石油化工大学石油化工学院,辽宁石油化工大学石油化工学院辽宁抚顺l,辽宁抚顺l,辽宁抚顺l

来源：

抚顺石油学院学报 | 2002年 / 04期

关键词：

晶胞参数; 结晶度; NaY分子筛; 硅铝比;

D O I：

暂无

中图分类号：

O72 [X射线晶体学];

学科分类号：

070301 [无机化学];

摘要：

用X射线衍射外推函数法测定饱和吸水前后NaY分子筛的晶胞参数和结晶度 ,经晶胞参数与2 9Si、　2 7Al固体魔角核磁共振谱仪测定NaY分子筛骨架中的硅铝比关联的经验公式 ,得到的X射线衍射法测定NaY分子筛骨架中硅铝比的分析方法 ,以便满足NaY分子筛骨架中硅铝比测定工作的需要。结果表明 ,测定NaY分子筛硅铝比、晶胞参数和结晶度的有效方法是在测定前对分子筛进行稳化处理 ,使其饱和吸水

引用

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共 5 条

[1]

快速测定水化硅酸钙结晶度的XRD方法 [J].