X射线三晶衍射及其应用

被引:3
作者
李超荣
机构
[1] 中国科学院物理研究所
关键词
散射强度; 倒易点; 单色器; 微缺陷; 布拉格角; 运动学; 表面损伤; 晶体; 外延膜; 分析器; 晶格常数; 点阵参数; 取向差; 动力学; 二维分布;
D O I
暂无
中图分类号
O722 [衍射实验及数据处理];
学科分类号
0702 ; 070205 ; 0703 ; 080501 ;
摘要
X射线三晶衍射由于同时采用了单色器和分析器,因而能区分样品中由完美晶体部分对X射线的动力学衍射和由缺陷部分引起的运动学散射,还可把晶体中晶格常数的变化和晶格取向缺陷区别开,并可测定倒易点附近X射线散射强度的二维分布图。近来,X射线三晶衍射技术广泛应用于研究晶体的表面和界面粗糙度、表面损伤、晶体内的微缺陷以及精确确定外延膜的结构参数等。此外,还简要地介绍了X射线三晶衍射的技术、原理和应用。
引用
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