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X射线三晶衍射及其应用
被引:3
作者
:
李超荣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国科学院物理研究所
李超荣
机构
:
[1]
中国科学院物理研究所
来源
:
物理
|
1994年
/ 01期
关键词
:
散射强度;
倒易点;
单色器;
微缺陷;
布拉格角;
运动学;
表面损伤;
晶体;
外延膜;
分析器;
晶格常数;
点阵参数;
取向差;
动力学;
二维分布;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O722 [衍射实验及数据处理];
学科分类号
:
0702 ;
070205 ;
0703 ;
080501 ;
摘要
:
X射线三晶衍射由于同时采用了单色器和分析器,因而能区分样品中由完美晶体部分对X射线的动力学衍射和由缺陷部分引起的运动学散射,还可把晶体中晶格常数的变化和晶格取向缺陷区别开,并可测定倒易点附近X射线散射强度的二维分布图。近来,X射线三晶衍射技术广泛应用于研究晶体的表面和界面粗糙度、表面损伤、晶体内的微缺陷以及精确确定外延膜的结构参数等。此外,还简要地介绍了X射线三晶衍射的技术、原理和应用。
引用
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页码:46 / 50
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