CVD金刚石膜的结构分析

被引:13
作者
刘存业
刘畅
机构
[1] 西南师范大学物理学系
[2] 拉特格斯大学物理与天文学系
关键词
金刚石膜; 化学气相沉积; x射线掠入射; 正电子湮没谱;
D O I
暂无
中图分类号
TN304.055 [];
学科分类号
摘要
利用x射线广角衍射和低角掠入射散射谱、正电子湮没谱、定性分析软件和Positronfit程序 ,研究了生长在Si( 10 0 )基底上的金刚石膜微结构 .研究发现 ,在样品邻近基底区域为纳米多晶结构 ,具有弱的 [111]织构 ;在邻近表面区域为微米多晶结构 ,具有强的 [2 2 0 ]织构 .金刚石膜样品有空位、空位团和空洞 3种缺陷 ,其中主要缺陷是大约 10个空位形成的空位团
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页数:5
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